產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心半導體材料測試CV測試
產(chǎn)品分類
相關文章
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
更新時間：2025-01-23
產(chǎn)品型號：LEI Model2017B
瀏覽量：252
汞CV測試系統(tǒng)，用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。
更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：369
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進行非接觸C-V/I-V測試。
更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：320公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
