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光譜系統(tǒng)
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● 采用分光干涉法 ● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)(專zhuan利 第4834847號) ● 使用光學(xué)光纖,可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng) ● 可嵌入至各種制造設(shè)備。 ● 實時測量膜厚 ● 可對應(yīng)遠程操作、多點測量 ● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源
PP-1000小角激光散射儀,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,簡稱SALS),可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測,實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比,檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進行光學(xué)各向異性的評價,解析結(jié)晶性薄膜的球晶半徑,偏光Vv散射測量可以進行聚合物混合的相關(guān)距離的分析。
以最zui高機型MCPD-9800為首,一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評價方法對應(yīng)不同設(shè)備
nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn)了實驗室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測定。 另外,這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。
●1個單元可輕松連續(xù)測量5個樣品。 ●實現(xiàn)了在沒有自動進樣器的情況下難以實現(xiàn)的多個樣品的連續(xù)測量,也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。 ●標(biāo)準(zhǔn)測量時間為1分鐘的高速測量,通過自動調(diào)整從濃縮樣品到稀釋樣品的最佳測量位置,實現(xiàn)約1分鐘的高速測量。 ●配備簡易測量功能(一鍵開始測量)軟件,簡單易懂,無需任何復(fù)雜操作。 ●內(nèi)置非浸入式電池塊,無需分裝,無污染,每個電池都是獨立的,無需擔(dān)心污染。
●支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量 ●還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量 ●可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布,并通過球帶系數(shù)法獲得總光譜通量、總光通量、色度、色溫等。 ●采用新型檢測器,可進行寬動態(tài)范圍測量與 IESNA LM-75 兼容 ●GP-2000 兼容 Type B 和 Type C ●支持紫外和近紅外區(qū)域的配光測量
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